1：10000 地質化探綜(zong)合剖面細則 ：

 一、目的、布設原則 目的、 是在對異常區充分踏勘的基礎上，結合區域控礦因素和主要找礦標志， 選擇成礦條件較好的地段或異常高值區用稀疏的地化剖面進行控制，以進一 步確定異常的確切位置，迅速查明含礦地段。剖面線布設應垂直礦（化）體 或異常長軸方向，其與地層、地質體的夾角大于 60°。

二、剖面測制(zhi)方法

 1．剖面起(qi)止點用 GPS 結(jie)合地形圖定位(wei)，并要(yao)反復(fu)交會檢查(cha)。

 2．用皮尺或測(ce)(ce)繩丈(zhang)量(liang)測(ce)(ce)段的(de)斜(xie)距。測(ce)(ce)量(liang)時皮尺或測(ce)(ce)繩一定要拉直(zhi)，并盡 量(liang)靠近(jin)和(he)平行地(di)面。 

3．用羅盤(pan)測(ce)(ce)量測(ce)(ce)段的方位角(jiao)和坡(po)度角(jiao)（仰(yang)角(jiao)為正，俯角(jiao)為負(fu)） 。

 4． 詳細(xi)作地質(zhi)(zhi)觀察， 劃(hua)分巖(yan)(yan)層， 研究巖(yan)(yan)性、 蝕變及礦(kuang)化(hua)情況。 測量(liang)巖(yan)(yan) （礦(kuang)） 層、接觸面、斷層等的產狀要素，并注(zhu)意反映各地質(zhi)(zhi)體(ti)(ti)宏觀特征(zheng)。 

5．從測(ce)繩或皮尺上讀出各(ge)種地質界線、產狀、樣(yang)品、標(biao)本、化石等(deng)的(de)位 置。

 6．剖面編(bian)號： 剖面編(bian)號用(yong)羅馬(ma)數字(zi)表示，如Ⅰ—Ⅰ’ ，Ⅱ—Ⅱ’ 。

 7．導(dao)線(xian)編(bian)號： 導(dao)線(xian)編(bian)號用阿拉伯數字表(biao)示(shi)，如 0—1，1—2 

8．樣品編號： 化學樣 H—121，光譜樣 GP—121，標本 B—10 化探采樣點編號用光譜樣表示(shi)。 

9．標志： 剖面(mian)起止點用木樁作標志，并(bing)標明剖面(mian)號。每條導(dao)線均要(yao)留有標志, 并 標明導線號(hao)。每個采樣點均要留有(you)標志，并標明樣號(hao)。

 10．采(cai)樣(yang)(yang)介(jie)質： 不(bu)同的找(zhao)礦方法選用不(bu)同采(cai)樣(yang)(yang)介(jie)質（如：巖石樣(yang)(yang)—揀塊；土(tu)壤(rang)樣(yang)、巖屑(xie) 樣(yang)—篩(shai)選—５—＋２０目(mu)） 

11．采樣方法： 采樣間距 40 米(mi)（巖(yan)石樣(yang)(yang)連續揀塊采樣(yang)(yang)，巖(yan)屑樣(yang)(yang)采樣(yang)(yang)深(shen)度大于等于 30 厘 米(mi)， 采樣(yang)時應在采樣(yang)點周(zhou)圍(wei) 1－5 米范圍內挖(wa) 2—3 個(ge)小坑組合采集巖(yan)屑樣） 異(yi) , 常高值地(di)段或成礦有利地(di)段可適當(dang)加(jia)密，第(di)四系覆蓋區可適當(dang)放稀，樣(yang)重大(da) 2 于 150 克。 注意在礦(kuang)化情況較好地(di)段用刻槽法采(cai)集(ji)化學樣,樣重(zhong)大于 5 千克。 

12．記(ji)(ji)(ji)錄(lu)格式(shi) 記(ji)(ji)(ji)錄(lu)格式(shi)統一用野外記(ji)(ji)(ji)錄(lu)薄(bo)，記(ji)(ji)(ji)錄(lu)內容包(bao)括地質(zhi)記(ji)(ji)(ji)錄(lu)部(bu)分和化(hua)探采樣記(ji)(ji)(ji) 錄(lu)部(bu)分。 地質(zhi)記(ji)(ji)(ji)錄(lu)部(bu)分： （導線號）0—1 導 （分(fen)層(ceng)位置）20 米(mi) 巖(yan)石名稱： 顏色(se)、結構、構造、礦物成分(fen)、礦化蝕變、宏觀(guan)地質特(te)征(zheng)、接觸(chu)界線(xian)等。 對礦化蝕變特(te)征(zheng)應(ying)重(zhong)點(dian)詳細記錄。 化探采樣記錄部分(fen)（寫在正文對應(ying)的厘(li)米(mi)方格紙上） ： 采樣編號 0—1 導 40 米 80 米 GP—311 GP—312 凝灰巖 玄(xuan)武巖 樣品(pin)編號 巖性 （坡度角）+5° （層(ceng)號）3 注：在(zai)剖(pou)面(mian)記(ji)錄前必須注明日期、地點(dian)、剖(pou)面(mian)號、剖(pou)面(mian)方位、參加人員 及分工、剖(pou)面(mian)長(chang)度等。如在(zai)記(ji)錄中(zhong)出現錯誤(wu)，只能(neng)劃(hua)改(gai)，不(bu)能(neng)擦改(gai)。

三、剖面圖(tu)制圖(tu)方法(fa)

 1．圖頭、比例尺 

2．化探部(bu)分 

（1）用羅(luo)馬數(shu)字標明剖面編(bian)號(hao)，如Ⅰ—Ⅰ’ 。 

（2）圖件橫比例尺同工作(zuo)比例尺，參數(shu)(縱)比例尺采用算術比例尺。

 （3）參數比例尺大(da)小應使異常限值在圖(tu)上不超過(guo) 2mm，使較低異常值 盡量集中在 1cm 范圍內，以突出異(yi)常高(gao)值。 

（4）相鄰點(dian)之(zhi)間用直線連接(jie)。當異常值大于參數(shu)(shu)比例尺上限(xian)時(shi)，曲線尖 頂截去，改(gai)成鋸齒(chi)狀連接(jie)，并注明數(shu)(shu)值。 

（5）如果(guo)多種元(yuan)素表(biao)示(shi)(shi)在同一(yi)圖中，用不同線條表(biao)示(shi)(shi)。

 3．地質(zhi)部分 

（1）地形(xing)線繪制。 

（2）剖面線方(fang)向（標于地形線左上方(fang) 1.5 厘(li)米處） 。 3 

（3）分(fen)層位置及層號標注。 

（4）巖(yan)性(xing)(xing)花紋（根據巖(yan)礦鑒定名稱修改野外巖(yan)石定名，確(que)定最終巖(yan)石定 名后方繪(hui)制巖(yan)性(xing)(xing)花紋） 。 

（5）樣品標(biao)注。 

（6）標(biao)注(zhu)剖面位置（標(biao)注(zhu)剖面起(qi)點(dian)經(jing)緯(wei)度(du)座(zuo)標(biao)）

 4．圖式圖例 

5．責任(ren)欄

四、樣品管理 1:10000 地質化探綜合剖面樣(yang)品種類(lei)多、數量大，每(mei)天野外工(gong)作(zuo)結束后(hou)， 由專(zhuan)人負責收集(ji)、登(deng)記。剖面測制結束后(hou)，統一(yi)匯總。 

五、剖面小結 可以在同一成礦帶或異常區工作結束后，幾個剖面統一編寫一個小結。 具體內容為： 1．剖面測制的目的 2．完成主(zhu)要工作量：剖面長度、標本、各類樣品件數等(deng)。 3．取(qu)得主要地質成果 ①地層 ②構造 ③巖漿巖 ④圍巖蝕變(bian) ⑤礦產（詳述） ⑥異常查(cha)證成果(guo)（詳述） 4．主要存在問題及進(jin)一步(bu)工作建議 

六、質量檢查 實行三級檢查制度。自檢： 野外、室內均 100%；互(hu)檢：野外不低于(yu) 20%， 室內 100%；抽檢：野(ye)外不低于(yu) 5%，室內(nei)不低于(yu) 20%。